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| 浅谈OTDR测试曲线分析 | |
| 引用本文： | 李腾.浅谈OTDR测试曲线分析[J].计算机光盘软件与应用,2011(4). |
| 作者姓名： | 李腾 |
| 作者单位： | 中央广播电视塔,北京,100142 |
| 摘 要： | OTDR(光时域反射仪)作为光链路测量、故障排除的常用仪器被广泛使用.对仪表参数的正确设置和测试结果的正确解读是使用前提和基础.本文以OTDR测试曲线的分析为主线,浅显的向大家介绍了OTDR的基本测试原理以及测试曲线形成的相关理论知识,并结合自己在OTDR使用过程中的一些经验,总结分析了光链路中的事件等与测试曲线的关系.希望本文能给大家在今后 OTDR的使用中带来点滴帮助. |
| 关 键 词： | OTDR 反射事件 非反封事件 |
Analysis of OTDR Test Curve |
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| Authors: | Li Teng |
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| Keywords: | |
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