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| 用CMOS三值门电路构成的一种自校验二值逻辑系统 | |
| 引用本文： | 胡谋,K.C.Smith.用CMOS三值门电路构成的一种自校验二值逻辑系统[J].计算机学报,1981(6). |
| 作者姓名： | 胡谋 K.C.Smith |
| 作者单位： | 上海铁道学院 (胡谋)，加拿大多伦多大学(K.C.Smith) |
| 摘 要： | 本文提出一种用CMOS技术实现三值门电路,再用这些门电路构成自校验二值系统的方案。这些门电路的所有单故障可以分为向中型、无中型及掩蔽型三类。论证了用这些门电路所构成的二值逻辑系统对所有向中型故障是完全自校验的。而对无中型故障,该系统是易于测试的。对此种故障提出了一种测试码产生方法。此外,分析了掩蔽型故障对系统的影响。 |
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