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FT51:一种容软错误高可靠微控制器
引用本文:龚锐,陈微,刘芳,戴葵,王志英. FT51:一种容软错误高可靠微控制器[J]. 计算机学报, 2007, 30(10): 1662-1673
作者姓名:龚锐  陈微  刘芳  戴葵  王志英
作者单位:国防科技大学计算机学院,长沙,410073;国防科技大学计算机学院,长沙,410073;国防科技大学计算机学院,长沙,410073;国防科技大学计算机学院,长沙,410073;国防科技大学计算机学院,长沙,410073
摘    要:文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51.首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构,采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转(SEU)和组合逻辑单事件瞬态(SET)进行防护.所有的片内存储器采用Hamming编码进行防护.针对现有控制流检测的不足,该设计采用了软硬件结合的控制流检测与恢复机制.FT51在HJTC0.25μm工艺下进行了实现,与未经加固的版本相比,其额外的面积开销为80.6%,额外的性能开销为19%~133%.文中还提出了一种微处理器可靠性评估框架,在此框架下通过模拟和理论推导证明:典型情况下FT51的故障检出和屏蔽率为99.73%.

关 键 词:微控制器  软错误  单事件翻转  单事件瞬态  时空三模冗余  控制流检测
修稿时间:2007-05-07

FT51:A Soft Error Tolerant High Reliable Micro Controller
GONG Rui,CHEN Wei,LIU Fang,DAI Kui,WANG Zhi-Ying. FT51:A Soft Error Tolerant High Reliable Micro Controller[J]. Chinese Journal of Computers, 2007, 30(10): 1662-1673
Authors:GONG Rui  CHEN Wei  LIU Fang  DAI Kui  WANG Zhi-Ying
Affiliation:School of Computer, National University of Defense Technology, Changsha 410073
Abstract:
Keywords:micro controller  soft error  single event upset  single event transient  temporal spatial triple modular redundancy  control flow checking
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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