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MB86901 SPARC RISC芯片全机行为功能级模拟策略的研究
引用本文:聂铭洲,叶梅龙.MB86901 SPARC RISC芯片全机行为功能级模拟策略的研究[J].计算机辅助设计与图形学学报,1993,5(4):284-291.
作者姓名:聂铭洲  叶梅龙
作者单位:北京理工大学ASIC研究所,中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室 北京,100081,北京,100080
摘    要:本文提出了一种基于指令系统的MB86901 SPARC RISC芯片的行为功能级测试方法。和2]中的方法相比,由于DCL语言自身的特点,本文给出的方法有着简洁且故障覆益率高的特色。文章扼要地介绍了MB86901的指令系统,然后按照先测试寄存器,再逐条测试单个指令,最后测试指令间关系的逻辑顺序逐步对MB86901进行测试。对于寄存器的测试,我们采用了“雨点法”,使得寄存器故障覆盖率接近100%,在最常用的算术/逻辑/移位指令的测试中,我们使用了一个随机数发生器,使故障覆盖率大为提高。而且它的使用非常灵活。最后,我们测试了指令间可能出现的关系。

关 键 词:微处理器  芯片  功能级  模拟

A STRATEGY FOR WHOLE MACHINE BEHAVIORAL FUNCTIONAL LEVEL SIMULATION OF MB86901 SPARC RISC CHIP
Nie Mingzhou Ye MeilongDept.of Computer Science,Beijing Institute of Technology,Beijing, CAD Lab..A STRATEGY FOR WHOLE MACHINE BEHAVIORAL FUNCTIONAL LEVEL SIMULATION OF MB86901 SPARC RISC CHIP[J].Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics,1993,5(4):284-291.
Authors:Nie Mingzhou Ye MeilongDeptof Computer Science  Beijing Institute of Technology  Beijing  CAD Lab
Affiliation:Nie Mingzhou Ye MeilongDept.of Computer Science,Beijing Institute of Technology,Beijing,100081 CAD Lab.,Institute of Computing Technology,Academia Sinica,Beijing,100080
Abstract:This paper describes an approach to instruction system-based on behavioral functional level test of MB86901 SPARC RISC chip. The test steps are given as follow: fust, the special purpose registers and register files are tested; second, the individual instructions, and finally the possible relationship between instructions are also tested. The Reed Muller codes are used to test registers. A random number generator is presented while testing the A/L/S instructions.
Keywords:MB86901 SPARC RISC  behavioral functional level  Reed Muller code  random number generator    
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