| 可复用微处理器片上调试功能的设计与实现 |
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| 引用本文： | 王琪,高瑛珂,华斯亮,张铁军,王东辉,侯朝焕.可复用微处理器片上调试功能的设计与实现[J].计算机辅助设计与图形学学报,2012,24(10). |
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| 作者姓名： | 王琪 高瑛珂 华斯亮 张铁军 王东辉 侯朝焕 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院声学研究所数字系统集成实验室 北京100190;中国科学院研究生院 北京 100049
2. 中国科学院声学研究所数字系统集成实验室 北京100190 |
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| 基金项目： | 国家“核高基”科技重大专项，国家“九七三”重点基础研究发展计划项目 |
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| 摘 要： | 为了方便软件与应用系统的开发与调试,提出一种可复用的微处理器片上调试方法.通过设计通用的调试指令集和增加调试模块,并扩展处理器内核功能,实现了断点设置与取消、内核运行的流水级精确控制、内核资源访问、任意程序段运行中特殊事件的统计等片上调试功能.该方法已在自主研发的SuperV_EF01 DSP上实现.在CMOS 90 nm 工艺下的综合结果表明,新增的片上调试功能不影响SuperV_EF01 DSP的关键路径时序,而芯片总面积仅增加了3.87％.
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| 关 键 词： | 片上调试 可复用 数字信号处理器 单步 |
Design and Implementation of Reusable On-chip Debug Functions for Microprocessor |
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| Wang Qi
,
Gao Yingke
,
Hua Siliang
,
Zhang Tiejun
,
Wang Donghui
,
Hou Chaohuan.Design and Implementation of Reusable On-chip Debug Functions for Microprocessor[J].Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics,2012,24(10). |
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| Authors: | Wang Qi Gao Yingke Hua Siliang Zhang Tiejun Wang Donghui Hou Chaohuan |
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