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| 基于元件测试的端接技术在LCR测试仪中的研究 | |
| 引用本文： | 陈吉,周鹤峰.基于元件测试的端接技术在LCR测试仪中的研究[J].工业控制计算机,2015(2). |
| 作者姓名： | 陈吉 周鹤峰 |
| 作者单位： | 1. 常州铁道高等职业技术学校,江苏 常州,213011 2. 常州市同惠电子有限公司,江苏 常州,213022 |
| 摘 要： | 简述了LCR测量仪的测量原理，研究了LCR测试仪中元件测试的几种端接技术的特点、误差及阻抗适用范围。每种端接技术的连接方法各有优缺点，必须根据被测元（DUT）的阻抗和要求的测量精度，选择合适的连接方法。 |
| 关 键 词： | LCR测试仪 端接技术 连接方法 |
Study of LCR Measuring Meter Based on Terminating Technology of Components Test |
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| Abstract: | |
| Keywords: | LCR measuring meter terminating technology connection method |
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