基于数据库通用自动测试系统 |
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引用本文: | 封吉平,张宏伟.基于数据库通用自动测试系统[J].计算机自动测量与控制,1998(4):5-8. |
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作者姓名: | 封吉平 张宏伟 |
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摘 要: | 基于数据库的通用自动测试系统能够应用于电子产品的设计、制造和使用维护各个阶段,并适用于各个电子产品,无论是已有的产品还是新开发电子产品。本文阐述了集成这种通用自动测试系统的必要性,用数据库控制通用自动测试系统的原理,系统的软硬件设计和应用展望。
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关 键 词: | 电子产品 自动测试系统 数据库 VXI总线 |
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