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发展中的RF MEMS开关技术
作者单位:;1.中北大学电子测试技术重点实验室;2.中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室
摘    要:从驱动方式和机械结构的角度介绍了不同的RF MEMS开关类型,分析了各类MEMS开关的性能及优缺点,分析了MEMS开关在制作和发展中面临的牺牲层技术、封装技术、可靠性问题等关键技术和问题,介绍了MEMS开关的发展现状及其在组件级和系统级的应用,以及对MEMS开关技术的展望。

关 键 词:RF  MEMS  开关性能  牺牲层  封装  可靠性

Development of RF MEMS switch technology
Abstract:
Keywords:
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