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基于Flash的关键变量容错存储技术研究
引用本文:龚雪容,刘根贤,生拥宏.基于Flash的关键变量容错存储技术研究[J].电子技术应用,2014,40(11).
作者姓名:龚雪容  刘根贤  生拥宏
作者单位:1. 解放军信息工程大学,河南郑州,450004
2. 清华大学计算机科学与技术系,北京,100084
摘    要:嵌入式系统中往往需要保存少量复位或掉电后依赖的关键变量,利用处理器片内Flash存储参数已经成为常规选择,但与常规Flash存储器件相比,片内Flash擦除次数更为有限,难以满足系统生命周期要求。研究了如何延长微处理器片内Flash使用寿命以及关键系统变量容错存储技术,针对典型嵌入式系统应用,分析Flash擦写管理机制,基于写磨损均衡算法进行改良,进一步提升系统容错能力。该技术在基于STM32单片机硬件平台进行了测试验证。

关 键 词:微处理器  Flash  容错  嵌入式系统

Research on parameters fault tolerant storage technologies based on Flash
Gong Xuerong,Liu Genxian,Sheng Yonghong.Research on parameters fault tolerant storage technologies based on Flash[J].Application of Electronic Technique,2014,40(11).
Authors:Gong Xuerong  Liu Genxian  Sheng Yonghong
Abstract:
Keywords:micro processor  Flash  fault tolerant  embedded system
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