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多路LCR参数自动测试分析系统的开发
引用本文:明士斌,陈伟,吉国力.多路LCR参数自动测试分析系统的开发[J].自动化与仪表,2005,20(3):50-52.
作者姓名:明士斌  陈伟  吉国力
作者单位:1. 厦门宇电自动化工程技术中心,福建,厦门
2. 厦门大学自动化系,福建,厦门,361005
基金项目:福建省自然科学基金资助项目(E0110007),厦门大学预研基金资助项目(Y07008)
摘    要:介绍了LCR参数测试分析系统的硬软件系统的设计与实现。系统以计算机和单片机控制器为核心,结合专门开发的测试和数据分析软件,实现LCR温度特性、频率特性的多通道自动测试和数据处理,克服了传统人工测试费时、重复性差、数据分析困难、检测环境难以控制等问题。

关 键 词:LCR测试仪  高低温箱  闭环测试系统
文章编号:1001-9944(2005)03-0050-03

Development of Measuring and Analyzing System for LCR Parameter
MING Shi-bin,CHEN Wei,JI Guo-li.Development of Measuring and Analyzing System for LCR Parameter[J].Automation and Instrumentation,2005,20(3):50-52.
Authors:MING Shi-bin  CHEN Wei  JI Guo-li
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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