| 基于March算法的嵌入式存储器BIST技术 |
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| 引用本文： | 唐涛,许邦建.基于March算法的嵌入式存储器BIST技术[J].计算机研究与发展,2007,44(Z1):17-21. |
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| 作者姓名： | 唐涛 许邦建 |
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| 作者单位： | 国防科学技术大学计算机学院,长沙,410073 |
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| 摘 要： | 随着嵌入式存储器规模的不断增大,BIST成为一种节省存储器测试时间和测试成本的有效手段.March算法是当前MBIST设计中最适合的算法.简要介绍了存储器故障模型和各种重要的March算法,探讨了MBIST的几种实现方式,从速度、面积、灵活性和IP保护等几方面对它们进行了分析比较,提出了未来MBIST技术的发展趋势.
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| 关 键 词： | 故障模型 March算法 数据背景 内建自测试 算法 嵌入式存储器 MBIST Memory Embedded 技术的发展趋势 比较 分析 保护 活性 面积 速度 故障模型 设计 手段 测试成本 测试时间 规模 |
| 修稿时间： | 2006年11月16 |
March-Based BIST Technology for Embedded Memory |
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| Tang Tao,Xu Bangjian.March-Based BIST Technology for Embedded Memory[J].Journal of Computer Research and Development,2007,44(Z1):17-21. |
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| Authors: | Tang Tao Xu Bangjian |
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