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SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法
引用本文:夏静,王天成,吕涛,李华伟,邝继顺. SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法[J]. 计算机研究与发展, 2014, 51(8)
作者姓名:夏静  王天成  吕涛  李华伟  邝继顺
作者单位:1. 湖南大学信息科学与工程学院 长沙 410082
2. 计算机体系结构国家重点实验室(筹)(中国科学院计算技术研究所) 北京100190
摘    要:为了提高基于SRAM的FPGA(SFPGA)上的容软错误能力,提出了一种基于软错误率(soft error rate,SER)评估的装箱算法SER-Tvpack.通过结合软错误率的两个组成部分错误传播率(error propagation probability,EPP)和节点错误率(node error rate,NER),得到软错误评估标准SER的估算值,并将该值作为可靠性因子加入到代价函数中指导装箱过程,以减少装箱后可编程逻辑块(configuration logic block,CLB)之间互连的软错误率,从而提高设计的可靠性.对20个MCNC基准电路(最大基准电路集)进行实验,结果表明,与基准时序装箱算法T-Vpack及已有的容错装箱算法FTvpack相比较,软故障率分别减少了14.5%和4.11%.而且,与F-Tvpack比较,在仅增加0.04%的面积开销下,减少了2.31%的关键路径的时延,提供了较好的时序性能.

关 键 词:SRAM型FPGA  软错误率  可靠性  装箱  单粒子翻转

SER-Tvpack : An SER Estimation-Based Clustering Method for SRAM-Based FPGAs
Xia Jing,Wang Tiancheng,Lü Tao,Li Huawei,Kuang Jishun. SER-Tvpack : An SER Estimation-Based Clustering Method for SRAM-Based FPGAs[J]. Journal of Computer Research and Development, 2014, 51(8)
Authors:Xia Jing  Wang Tiancheng  Lü Tao  Li Huawei  Kuang Jishun
Abstract:
Keywords:SRAM-based FPGA  soft error rate (SER)  reliability  clustering  single event upset (SEU)
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
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