| SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法 |
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| 引用本文： | 夏静,王天成,吕涛,李华伟,邝继顺. SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法[J]. 计算机研究与发展, 2014, 51(8) |
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| 作者姓名： | 夏静 王天成 吕涛 李华伟 邝继顺 |
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| 作者单位： | 1. 湖南大学信息科学与工程学院 长沙 410082
2. 计算机体系结构国家重点实验室(筹)(中国科学院计算技术研究所) 北京100190 |
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| 摘 要： | 为了提高基于SRAM的FPGA(SFPGA)上的容软错误能力,提出了一种基于软错误率(soft error rate,SER)评估的装箱算法SER-Tvpack.通过结合软错误率的两个组成部分错误传播率(error propagation probability,EPP)和节点错误率(node error rate,NER),得到软错误评估标准SER的估算值,并将该值作为可靠性因子加入到代价函数中指导装箱过程,以减少装箱后可编程逻辑块(configuration logic block,CLB)之间互连的软错误率,从而提高设计的可靠性.对20个MCNC基准电路(最大基准电路集)进行实验,结果表明,与基准时序装箱算法T-Vpack及已有的容错装箱算法FTvpack相比较,软故障率分别减少了14.5%和4.11%.而且,与F-Tvpack比较,在仅增加0.04%的面积开销下,减少了2.31%的关键路径的时延,提供了较好的时序性能.
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| 关 键 词： | SRAM型FPGA 软错误率 可靠性 装箱 单粒子翻转 |
SER-Tvpack : An SER Estimation-Based Clustering Method for SRAM-Based FPGAs |
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| Xia Jing,Wang Tiancheng,Lü Tao,Li Huawei,Kuang Jishun. SER-Tvpack : An SER Estimation-Based Clustering Method for SRAM-Based FPGAs[J]. Journal of Computer Research and Development, 2014, 51(8) |
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| Authors: | Xia Jing Wang Tiancheng Lü Tao Li Huawei Kuang Jishun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | SRAM-based FPGA soft error rate (SER) reliability clustering single event upset (SEU) |
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