| 嵌入式计算机的BIT设计与实现 |
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| 引用本文： | 刘少雄,喻卫东.嵌入式计算机的BIT设计与实现[J].计算机工程,2008,34(Z1). |
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| 作者姓名： | 刘少雄 喻卫东 |
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| 作者单位： | 华东计算技术研究所,上海,200233 |
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| 摘 要： | 依据嵌入式计算机组成特点,在可测试性设计中采用层次式测试硬件结构,通过分布式测试控制管理,实现从器件级、模块级到子系统级、系统级的逐级测试.在BIT测试中,以CPU测试为例解析了测试用例数据、用例过程、执行控制和判决的组织与实现. .
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| 关 键 词： | 可测试性设计 机内测试 测试用例 |
Design and Implementation of BIT for Embedded Computer |
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| LIU Shao-xiong,YU Wei-dong.Design and Implementation of BIT for Embedded Computer[J].Computer Engineering,2008,34(Z1). |
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| Authors: | LIU Shao-xiong YU Wei-dong |
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| Affiliation: | LIU Shao-xiong,YU Wei-dong (East China Institute of Computer Technology,Shanghai 200233) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Design For Testability(DFT) Built-In-test(BIT) test case |
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