| 基于约束的处理器接口随机测试模型 |
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| 引用本文： | 郇丹丹,李祖松,刘志勇.基于约束的处理器接口随机测试模型[J].计算机工程,2007,33(15):227-229. |
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| 作者姓名： | 郇丹丹 李祖松 刘志勇 |
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| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所，中国科学院计算技术研究所，中国科学院计算技术研究所 北京100080，中国科学院研究生院，北京100039，北京100080，中国科学院研究生院，北京100039，北京100080 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金
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国家高技术研究发展计划(863计划)
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国家重点基础研究发展计划(973计划) |
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| 摘 要： | 提出了一种处理器接口测试模型，并给出了具体实现方案。该测试模型将仿真测试的方法应用于处理器接口测试，在激励生成中采用基于约束的随机测试生成方法。结果表明，基于约束的处理器接口随机测试模型的覆盖率达到83.68％，能够快速有效地完成处理器接口部件的功能验证。
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| 关 键 词： | 接口 功能验证 仿真 约束随机测试 覆盖率 龙芯2号 |
| 文章编号： | 1000-3428（2007）15-0227-03 |
| 修稿时间： | 2006-09-20 |
Constraint-based Random Test Model for Microprocessor Interface Unit |
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| HUAN Dan-dan,LI Zu-song,LIU Zhi-yong.Constraint-based Random Test Model for Microprocessor Interface Unit[J].Computer Engineering,2007,33(15):227-229. |
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| Authors: | HUAN Dan-dan LI Zu-song LIU Zhi-yong |
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| Affiliation: | 1. Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100080; 2. Graduate School, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039 |
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| Abstract: | This paper proposes a test model and implement scheme of microprocessor interface unit.Random test method is adopted in this model,and constrained random test is used in stimulus generation.Experimental results show that the constrained random test model can achieve 83.68% functional coverage and accomplish functional verification of microprocessor interface unit efficiently. |
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| Keywords: | interface functional verification simulation constrained random test coverage Godson-2 |
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