| 一种嵌入式软件逻辑覆盖测试方法研究 |
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| 引用本文： | 肖永健,刘永恒,徐军.一种嵌入式软件逻辑覆盖测试方法研究[J].计算机测量与控制,2015,23(4). |
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| 作者姓名： | 肖永健 刘永恒 徐军 |
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| 作者单位： | 工业和信息化部电子第五研究所,广州,510610 |
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| 摘 要： | 针对嵌入式软件测试覆盖率低的问题,提出了基于软件故障注入的逻辑覆盖测试方法,首先就嵌入式系统常用传感器建立故障模式库,设计了嵌入式软件故障注入系统;其次选取中间层作为故障注入点,研究基于VxWorks653嵌入式操作系统的故障注入实现方式,并通过分析故障信号在软件系统中的传播,提出优化测试用例的方法;最后通过实验验证了该方法可有效提高容错设计功能、冗余设计功能、故障检测功能测试的逻辑覆盖率;有助于提高嵌入式软件的可靠性.
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| 关 键 词： | 嵌入式软件 故障注入 逻辑覆盖 故障信号传播 |
A Logic Coverage Test Method Research for Embedded Software |
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| Xiao Yongjian,Liu Yongheng,Xu Jun.A Logic Coverage Test Method Research for Embedded Software[J].Computer Measurement & Control,2015,23(4). |
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| Authors: | Xiao Yongjian Liu Yongheng Xu Jun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | embedded software fault injection logic coverage propagation of fault signal |
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