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并行测试系统设计与开发
引用本文:夏锐,肖明清,赖根.并行测试系统设计与开发[J].计算机测量与控制,2006,14(7):841-843,889.
作者姓名:夏锐  肖明清  赖根
作者单位:空军工程大学,工程学院,自动测试系统实验室,陕西,西安,710038
基金项目:国防科技重点实验室基金
摘    要:在大量借鉴IC测试领域并行测试的相关成果和并行科学计算、操作系统的并行理论等基础上,首先提出了并行测试系统设计的基本要求,然后介绍了并行测试系统的总体方案;接着分别描述了并行测试系统的硬件及软件设计;最后讨论了并行测试程序的调试;希望以此能够促进并行测试系统的研制与开发。

关 键 词:并行测试  自动测试系统  多线程
文章编号:1671-4598(2006)07-0841-03
收稿时间:2005-10-25
修稿时间:2005-10-252005-12-09

Parallel ATS Design
Xia Rui,Xiao Mingqing,Lai Gen.Parallel ATS Design[J].Computer Measurement & Control,2006,14(7):841-843,889.
Authors:Xia Rui  Xiao Mingqing  Lai Gen
Abstract:First, the principal requirements of the parallel test system are presented based on abundant references to the parallel test in IC test domain, parallel computing, parallel theory of operating system and so on, Second, the blue print of parallel test system frame is introduced, the hardware and software design are described. Last, the parallel test program debugging is discussed, It is expected that it will promote the development of parallel test system,
Keywords:parallel test  auto test system  multithread
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