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下一代自动测试系统体系结构与关键技术
引用本文:于劲松,李行善.下一代自动测试系统体系结构与关键技术[J].计算机测量与控制,2005,13(1):1-3,17.
作者姓名:于劲松  李行善
作者单位:北京航空航天大学,自动化科学与电气工程学院,北京,100083
摘    要:在总结自动测试系统发展现状的基础上,以目前国际上正在开展的下一代自动测试系统的研究为背景,分析了下一代自动测试系统的体系结构与标准,重点讨论了下一代自动测试系统开发所涉及的并行测试技术、合成仪器技术、仪器可互换技术、TPS可移植与互操作技术、智能测试诊断技术及测试诊断信息的表达等关键技术。希望以此能促进我国下一代通用自动测试系统的研制与开发。

关 键 词:自动测试系统  体系结构  可靠性  并行测试
文章编号:1671-4598(2005)01-0001-03

Architecture and Key Technologies of Next Generation Automatic Test System
Yu Jinsong,Li Xingshan.Architecture and Key Technologies of Next Generation Automatic Test System[J].Computer Measurement & Control,2005,13(1):1-3,17.
Authors:Yu Jinsong  Li Xingshan
Abstract:Based on summary of the current state of automatic test system and with up to date researches on next generation ATS in the background, the architecture and standards of next generation ATS are analyzed, focusing on key technologies such as parallel test, synthesize instrument, instrument interchangeability, the portability and interoperability of TPS, intelligent diagnosis test system and presentation of diagnosis information. It is expected that it will promote the development of domestic next generation ATS.
Keywords:automatic test system  test system architecture  key technologies
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