| 线阵CCD测量干涉条纹抽样问题的讨论 |
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| 引用本文： | 董伟,李瑞.线阵CCD测量干涉条纹抽样问题的讨论[J].计算机测量与控制,2002,10(6):371-372. |
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| 作者姓名： | 董伟 李瑞 |
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| 作者单位： | 石家庄军械工程学院,河北,石家庄,050003 |
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| 摘 要： | 对利用线阵CCD测量干涉条件中，由于CCD本身的分离性和象元的积分效应，以及干涉条纹（余弦信号）抽样的特殊性，深入讨论了“如何确定可测量条纹最大空间频率”、“象元积分效应对抽样的影响”和“象元相位匹配对条纹对比度的影响”等3个问题，结果对于利用线阵CCD测量干涉条纹具有一般性的指导意义。
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| 关 键 词： | 线阵CCD 测量 干涉条纹 抽样问题 |
| 文章编号： | 1671-4598(2002)06-0371-02 |
| 修稿时间： | 2001年11月21 |
A Discussion About the Sampling Problem of Using Linear CCD to Measure the Interference Fringe |
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| DONG Wei,LI Rui.A Discussion About the Sampling Problem of Using Linear CCD to Measure the Interference Fringe[J].Computer Measurement & Control,2002,10(6):371-372. |
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| Authors: | DONG Wei LI Rui |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | CCD interference fringe sampling theory |
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