| SRAM型FPGA单粒子翻转失效率自动测试系统设计与实现 |
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| 引用本文： | 周永彬,杨俊.SRAM型FPGA单粒子翻转失效率自动测试系统设计与实现[J].计算机测量与控制,2010,18(10). |
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| 作者姓名： | 周永彬 杨俊 |
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| 作者单位： | 国防科技大学,机电工程与自动化学院,湖南,长沙,410073 |
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| 基金项目： | 预研基金项目，中国卫星导航学术年会青年优秀论文获奖者资助项目 |
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| 摘 要： | 在航天应用时,辐射易敏SRAM型FPGA因单粒子翻转导致的在轨失效率必须满足设计要求;针对该在轨失效率的地面测试预计难题,提出了一种基于单粒子翻转空时特性仿真的自动注入测试方案,通过静态翻转截面测试和失效错误比的动态注入测试两个步骤,得到FPGA加载不同应用时的动态翻转截面;提出失效映射函数的概念,对测试原理进行了合理性解释;引入了时间维恒定失效概率特性,提出了一种注入集缩减方法,在确保单粒子翻转空时特性仿真的真实性的基础上,加快了测试速度;与高能粒子束流实验的结果对比表明,该自动测试系统测试结果的可信度达到了90%左右.
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| 关 键 词： | SRAM型FPGA 故障注入测试 SEU仿真 失效映射函数 |
Rationale and Implementation of Automatic Test System of SEU Induced Failure Rate for SRAM Based FPGAs |
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| Zhou Yongbin,Yang Jun.Rationale and Implementation of Automatic Test System of SEU Induced Failure Rate for SRAM Based FPGAs[J].Computer Measurement & Control,2010,18(10). |
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| Authors: | Zhou Yongbin Yang Jun |
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