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嵌入式API测试套生成方法和技术
引用本文:赵会群,孙晶,张爆,王同林.嵌入式API测试套生成方法和技术[J].软件学报,2014,25(2):373-385.
作者姓名:赵会群  孙晶  张爆  王同林
作者单位:北方工业大学 信息工程学院,北京 100144;北方工业大学 信息工程学院,北京 100144;北方工业大学 信息工程学院,北京 100144;北方工业大学 信息工程学院,北京 100144
基金项目:国家自然科学基金(61070030, 61370051);北京市教委人才创新团队计划(4062012)
摘    要:随着嵌入式计算机系统应用的不断扩展,嵌入式系统的可靠性引起了学术界和工业界的广泛关注,也提出了很多增进可靠性的方法和技术.然而,现有的方法和技术在测试套生成方面论述不多,所以在处理大批量嵌入式系统测试工作中遇到了挑战.讨论抽象测试套生成方法和适配技术,提出了LTS(labeled transition system)到BT(behavior tree)的转换算法,从而使TTCN(test and testing control notation)测试套可以通过转换嵌入式软件的LTS描述产生.还介绍了基于上述转换算法的嵌入式软件测试工具包,以及一个嵌入式物联网识读器测试案例研究.

关 键 词:嵌入式软件  软件测试  测试与测试控制语言  标签转换系统
收稿时间:2013/4/28 0:00:00
修稿时间:2013/12/17 0:00:00

Method and Technique of Test Suite Generation for Embedded API
ZHAO Hui-Qun,SUN Jing,ZHANG Bao and WANG Tong-Lin.Method and Technique of Test Suite Generation for Embedded API[J].Journal of Software,2014,25(2):373-385.
Authors:ZHAO Hui-Qun  SUN Jing  ZHANG Bao and WANG Tong-Lin
Institution:School of Information Engineering, North China University of Technology, Beijing 100144, China;School of Information Engineering, North China University of Technology, Beijing 100144, China;School of Information Engineering, North China University of Technology, Beijing 100144, China;School of Information Engineering, North China University of Technology, Beijing 100144, China
Abstract:
Keywords:embedded software  software testing  TTCN (test and testing control notation)  LTS (labeled transition system)
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