| 嵌入式API测试套生成方法和技术 |
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| 引用本文： | 赵会群,孙晶,张爆,王同林.嵌入式API测试套生成方法和技术[J].软件学报,2014,25(2):373-385. |
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| 作者姓名： | 赵会群 孙晶 张爆 王同林 |
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| 作者单位： | 北方工业大学 信息工程学院,北京 100144;北方工业大学 信息工程学院,北京 100144;北方工业大学 信息工程学院,北京 100144;北方工业大学 信息工程学院,北京 100144 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金（61070030, 61370051）；北京市教委人才创新团队计划（4062012） |
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| 摘 要： | 随着嵌入式计算机系统应用的不断扩展，嵌入式系统的可靠性引起了学术界和工业界的广泛关注，也提出了很多增进可靠性的方法和技术.然而，现有的方法和技术在测试套生成方面论述不多，所以在处理大批量嵌入式系统测试工作中遇到了挑战.讨论抽象测试套生成方法和适配技术，提出了LTS(labeled transition system)到BT(behavior tree)的转换算法，从而使TTCN(test and testing control notation)测试套可以通过转换嵌入式软件的LTS描述产生.还介绍了基于上述转换算法的嵌入式软件测试工具包，以及一个嵌入式物联网识读器测试案例研究.
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| 关 键 词： | 嵌入式软件 软件测试 测试与测试控制语言 标签转换系统 |
| 收稿时间： | 2013/4/28 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2013/12/17 0:00:00 |
Method and Technique of Test Suite Generation for Embedded API |
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| ZHAO Hui-Qun,SUN Jing,ZHANG Bao and WANG Tong-Lin.Method and Technique of Test Suite Generation for Embedded API[J].Journal of Software,2014,25(2):373-385. |
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| Authors: | ZHAO Hui-Qun SUN Jing ZHANG Bao and WANG Tong-Lin |
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| Affiliation: | School of Information Engineering, North China University of Technology, Beijing 100144, China;School of Information Engineering, North China University of Technology, Beijing 100144, China;School of Information Engineering, North China University of Technology, Beijing 100144, China;School of Information Engineering, North China University of Technology, Beijing 100144, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | embedded software software testing TTCN (test and testing control notation) LTS (labeled transition system) |
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