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微机械薄膜应力的在线测试结构
引用本文:刘祖韬,黄庆安,姜岩峰.微机械薄膜应力的在线测试结构[J].测控技术,2002,21(7):6-9.
作者姓名:刘祖韬  黄庆安  姜岩峰
作者单位:东南大学微电子中心MEMS教育部重点实验室,江苏南京,210096
摘    要:微机械薄膜应力对MEMS器件有较大的影响,因此应力测量对于工艺监控和MEMS器件设计是必须的。介绍了微机械薄膜应力的在线测试结构与方法,详细分析了各种方法的特点。对于MEMS薄膜应力测试结构设计有一定的参考价值。

关 键 词:微机械薄膜应力  在线测试结构  半导体加工  MEMS器件  微电子技术
文章编号:1000-8829(2002)07-0006-04
修稿时间:2001年11月13日

In-Situ Test Structures of Micromachined Thin Films
Abstract:
Keywords:
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