基于AETG算法的两两组合测试用例生成方法 |
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引用本文: | 梁凡,宋晓秋.基于AETG算法的两两组合测试用例生成方法[J].计算机工程与设计,2014(11):3850-3854. |
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作者姓名: | 梁凡 宋晓秋 |
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作者单位: | 中国航天科工集团第二研究院706所 |
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摘 要: | 对两两组合测试用例生成算法进行研究,在AETG算法的基础上进行改进,主要改进了AETG算法的参数排序过程。计算每个参数当前在未覆盖配对集中出现的次数,综合考虑其整体出现的次数以及单个取值出现的次数决定待扩展的参数序列。实验结果表明,该方法在缩短时间开销的基础上进一步减少了待测系统用例集的规模,当参数取值逐渐增加时,其优势更加明显。
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关 键 词: | 两两组合 成对覆盖 AETG算法 AETG_I算法 参数排序 |
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