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| 密码芯片光辐射依赖性分析磁 | |
| 引用本文： | 王红胜,纪道刚,张阳,陈开颜.密码芯片光辐射依赖性分析磁[J].计算机与数字工程,2014(10). |
| 作者姓名： | 王红胜 纪道刚 张阳 陈开颜 |
| 作者单位： | 军械工程学院信息工程系 石家庄 050003 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(编号61271152；51377170)；河北省自然科学基金资助项目(编号F2012506008)资助。 |
| 摘 要： | 通过分析 CMOS 集成电路光辐射机理，利用单光子探测技术，搭建针对 CMOS 电路光辐射采集平台；以运行固定指令的 AT89C52微控制器为分析对象，分析密码芯片光辐射信息与其执行的操作及处理的数据存在的依赖性关系，同时也分析了不同工作电压对密码芯片光辐射的影响；通过对密码芯片光辐射进行分析，说明光辐射旁路分析对安全芯片构成了严重的威胁。 |
| 关 键 词： | 光辐射 依赖性分析 密码芯片 单光子探测 旁路分析 |
Optical Emission Dependency Analysis on Cryptographic Chip |
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| WANG Hongsheng,JI Daogang,ZHANG Yang,CHEN Kaiyan.Optical Emission Dependency Analysis on Cryptographic Chip[J].Computer and Digital Engineering,2014(10). | |
| Authors: | WANG Hongsheng JI Daogang ZHANG Yang CHEN Kaiyan |
| Abstract: | |
| Keywords: | optical emission dependency analysis cryptography chip single photon detection side channel analysis |
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