DaTARIUS光盘检测系统的校准原理和方法 |
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引用本文: | 肖国忠,韦宁.DaTARIUS光盘检测系统的校准原理和方法[J].记录媒体技术,2003(2). |
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作者姓名: | 肖国忠 韦宁 |
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摘 要: | 一、前言光盘检测系统的校准方法是光盘检测技术的重要内容,正确理解和掌握该方法是在光盘检测中取得正确测量数据、保证和提高产品质量的前提条件。本文就DaTARIUS光盘检测系统的校准原理和校准方法进行一些探讨。二、光盘检测系统的校准原理在CD-DA/CD-ROM国际标准中,国际上通用Phillips 5B3光盘作为CD-DA/CD-ROM中参数I3,111,RN和Jitter的基准盘(ReferenceDisc)。为了保证光盘检测系统的检测结果的统一性和正确性,国际上大多数的光盘检测系统普遍采用Phillips 5B3光盘作为光盘检测系统的基准盘。下面我们介绍DaTARIUS光盘检测系统的校准原理。
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