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运输包装黑匣子的研究
引用本文:赵庆海,顾桓,黄颖为.运输包装黑匣子的研究[J].传感器与微系统,2004,23(9):10-12.
作者姓名:赵庆海  顾桓  黄颖为
作者单位:西安理工大学,印刷包装工程学院,陕西,西安,710048
摘    要:运输包装损坏主要由流通过程中装卸、运输、存储等环节以及包装物设计本身所造成。介绍了能对上述损坏因素进行全过程监测的黑匣子。通过黑匣子对流通过程中包装件的加速度、温度、湿度进行监测并记录在存储器中,然后,通过对黑匣子记录数据的读取,取得损害原因数据,从而确定损坏原因。

关 键 词:运输包装  黑匣子  测试  单片机  传感器
文章编号:1000-9787(2004)09-0010-03
修稿时间:2004年3月1日

Study on black box of transport packaging
ZHAO Qing-hai,GU Huan,HUANG Ying-wei.Study on black box of transport packaging[J].Transducer and Microsystem Technology,2004,23(9):10-12.
Authors:ZHAO Qing-hai  GU Huan  HUANG Ying-wei
Abstract:In the process of circulation,transport packaging damage is mainly brought by loading/unloading,transport,storage and design of packaging.Black box used to monitor damage causing above in all process is introduced.Black box is used to test acceleration,temperature and humidity of packaging in the process of circulation and to memorize their data.Then the data from black box is used to confirm reasons of damage.
Keywords:transport packaging  black box  testing  single chip processor  sensor
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