微热电阻毫秒级瞬时发热的温度场测试 |
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引用本文: | 马雷,谢仕聘,刘贵喜,张菊香.微热电阻毫秒级瞬时发热的温度场测试[J].新电脑,1997(5). |
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作者姓名: | 马雷 谢仕聘 刘贵喜 张菊香 |
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作者单位: | 西安电子科技大学!西安,710071,西安电子科技大学!西安,710071,西安电子科技大学!西安,710071,西安电子科技大学!西安,710071 |
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摘 要: | 阐述采用瑞典AGA780红外热像仪及其图像处理系统对热印头热电阻温度场的测试方法。AGA80一般仅用于测试体积较大、温度变化较缓慢的物体的温度场。本文提出引出其触发脉冲同步控制热电阻发热、用多次支点驱动、重复采集及叠加拼合的方法解决了高速瞬变温度场的测试课题,拓宽了此类仪器的应用范围。
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关 键 词: | 热印头 热电阻 温度场测试 |
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