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微热电阻毫秒级瞬时发热的温度场测试
引用本文:马雷,谢仕聘,刘贵喜,张菊香.微热电阻毫秒级瞬时发热的温度场测试[J].新电脑,1997(5).
作者姓名:马雷  谢仕聘  刘贵喜  张菊香
作者单位:西安电子科技大学!西安,710071,西安电子科技大学!西安,710071,西安电子科技大学!西安,710071,西安电子科技大学!西安,710071
摘    要:阐述采用瑞典AGA780红外热像仪及其图像处理系统对热印头热电阻温度场的测试方法。AGA80一般仅用于测试体积较大、温度变化较缓慢的物体的温度场。本文提出引出其触发脉冲同步控制热电阻发热、用多次支点驱动、重复采集及叠加拼合的方法解决了高速瞬变温度场的测试课题,拓宽了此类仪器的应用范围。

关 键 词:热印头  热电阻  温度场测试
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