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| 半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法分析研究 | |
| 引用本文： | 马俊.半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法分析研究[J].电脑编程技巧与维护,2016(10). |
| 作者姓名： | 马俊 |
| 作者单位： | 长沙医学院,长沙,410219 |
| 基金项目： | 湖南省教育厅科学研究(14C0113) |
| 摘 要： | 探讨了半导体集成电路可靠性设计技术,分析了栅氧化层测试技术与数据处理方法,介绍了斜坡电压测试和介质击穿的实验两种方法,并给出了热载流子注入测试技术与数据处理方法. |
| 关 键 词： | 半导体集成电路 可靠性测试 数据处理 |
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