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深亚微米集成电路设计中串扰分析与解决方法
引用本文:马剑武,陈书明,孙永节.深亚微米集成电路设计中串扰分析与解决方法[J].计算机工程与科学,2005,27(4):102-104.
作者姓名:马剑武  陈书明  孙永节
作者单位:国防科技大学计算机学院,湖南,长沙,410073;国防科技大学计算机学院,湖南,长沙,410073;国防科技大学计算机学院,湖南,长沙,410073
摘    要:本文介绍了深亚微米集成电路设计中串扰的成因及其对信号完整性的影响,论述了串扰分析和设计解决的一般方法,对于实际设计具有一定的理论指导意义和应用参考价值。本文最后指出了我们工作的进一步研究方向。

关 键 词:串扰  信号完整性  深亚微米  耦合电容  噪声
文章编号:1007-130X(2005)04-00102-03
修稿时间:2004年5月10日

Crosstalk Analysis and Solution in Deep-Submicron Integrated Circuit Design
MA Jian-wu,CHEN Shu-ming,SUN Yong-jie.Crosstalk Analysis and Solution in Deep-Submicron Integrated Circuit Design[J].Computer Engineering & Science,2005,27(4):102-104.
Authors:MA Jian-wu  CHEN Shu-ming  SUN Yong-jie
Abstract:This paper presents the causes of crosstalk in deep-submicron integrated circuit design and its impact on signal integrity, and discusses the analysis and solution of this problem. At the end, we point out our the future research direction.
Keywords:crosstalk  signal integrity  deep-submicron  coupled capacitance  noise  
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