首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

用于k测试的BIST测试向量生成器
引用本文:汪昱,邝继顺.用于k测试的BIST测试向量生成器[J].计算机工程与科学,2005,27(4):29-30.
作者姓名:汪昱  邝继顺
作者单位:湖南大学计算机与通信学院,湖南,长沙,410082
基金项目:国家自然科学基金资助项目(60173042);湖南大学重点基金资助项目
摘    要:检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的BIST模块。实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的。

关 键 词:CMOS电路  k测试  内建自测试  BIST模块  测试向量生成器
文章编号:1007-130X(2005)04-0029-02
修稿时间:2004年5月10日

BIST Test Vector Generator for IDDT Testing
WANG Yu,KUANG Ji-Shun.BIST Test Vector Generator for IDDT Testing[J].Computer Engineering & Science,2005,27(4):29-30.
Authors:WANG Yu  KUANG Ji-Shun
Abstract:To test the open-circuit failures in CMOS circuits usually needs to use test vector pairs.Built-in self-test(BIST)is used as an effective test technique and it can gveatly reduce test overheads.This paper adopts a regular,mudular and over lapped automatic control unit (CA) to construct the BIST modules for generating test vector pairs.Experiments show that the method is effective in transient current testing.
Keywords:BIST  test generation  automatic control unit  transient current testing
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《计算机工程与科学》浏览原始摘要信息
点击此处可从《计算机工程与科学》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号