| 面向存储器核的内建自测试 |
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| 引用本文： | 檀彦卓,徐勇军,韩银和,李华伟,李晓维. 面向存储器核的内建自测试[J]. 计算机工程与科学, 2005, 27(4): 40-42 |
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| 作者姓名： | 檀彦卓 徐勇军 韩银和 李华伟 李晓维 |
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| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所,北京,100080;中国科学院计算技术研究所,北京,100080;中国科学院计算技术研究所,北京,100080;中国科学院计算技术研究所,北京,100080;中国科学院计算技术研究所,北京,100080 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(90207002，60242001)，北京市科技重点项目(H020120120130) |
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| 摘 要： | 存储器内建自测试是当前针对嵌入式随机存储器测试的一种经济有效的途径。它实质是BIST测试算法在芯片内部的硬件实现，形成“片上BIST测试结构999作为E-RAM核与芯片系统其他逻辑电路的接口，负责控制功能，实现片上E-RAM的自动测试。根据一个实际项目，本文介绍了MBIST的整体设计过程，并针对测试开销等给出了定量和定性的讨论。
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| 关 键 词： | 可测试性设计 存储器内建自测试 故障模型 March算法 |
| 文章编号： | 1007-130X(2005)04-0040-03 |
| 修稿时间： | 2004-05-10 |
The Built-In Self-Test for Memory Cores |
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| TAN Yan-zhuo,XU Yong-jun,HAN Yin-he,LI Hua-wei,LI Xiao-wei. The Built-In Self-Test for Memory Cores[J]. Computer Engineering & Science, 2005, 27(4): 40-42 |
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| Authors: | TAN Yan-zhuo XU Yong-jun HAN Yin-he LI Hua-wei LI Xiao-wei |
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| Abstract: | Memory built-in self-test (MBIST) is a cost-effective approach for the embedded RAM testing. In fact it is the hardware implementation of the BIST algorithm inside the chip, forming the “on-chip BIST structure”. In the chip system as the interface between the E-RAM core and the other logic circuits it performs the control functions to auto-test the E-RAM. Based on an industry project, this paper presents the complete design flow of MBIST and gives the quantitative and qualitative discussion for the test overhead. |
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| Keywords: | design for test(DFT) memory built-in self-test(MBIST) fault model March algorithm |
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