用于k测试的BIST测试向量生成器 |
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作者姓名: | 汪昱 邝继顺 |
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作者单位: | 湖南大学计算机与通信学院,湖南长沙410082 |
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摘 要: | 检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的BIST模块。实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的。
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关 键 词: | CMOS电路 k测试 内建自测试 BIST模块 测试向量生成器 |
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