半导体器件静态直流参数能力比对方法 |
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引用本文: | 赵青莲,张学洋,郑晓红.半导体器件静态直流参数能力比对方法[J].数字社区&智能家居,2020(12):259-261. |
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作者姓名: | 赵青莲 张学洋 郑晓红 |
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作者单位: | 贵州航天计量测试技术研究所 |
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摘 要: | 实验室间能力比对作为重要的外部质量评价手段,被越来越多的实验室所采用,它不仅是质量控制的一种有效方法,也是衡量各实验室间能力的一个重要手段.而半导体器件静态直流参数是器件基本参数之一,是半导体器件筛选环节必检项目.该文以半导体器件静态直流参数为例阐述实验室间能力比对的方法.
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关 键 词: | 能力比对 半导体器件 直流参数 |
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