| 一种新的基于固定型故障的通路时延故障可测试性分类方法 |
| |
| 作者姓名： | SubhashisMajumder BhargabB.Bhattacharya VishwaniD.Agrawal MichaelL.Bushnell |
| |
| 作者单位： | [1]InternationalInstituteofInformationTechnology,Kolkata700091,India [2]ACMUnit,IndianStatisticalInstitute,Kolkata700108,India [3]DepartmentofECE,AuburnUniversity,Alabama,AL36849,U.S.A. [4]DepartmentofECE,RutgersUniversity,Piscataway,NJ08855,U.S.A. |
| |
| 摘 要： | 在数字电路的时延测试、时序分析和时序优化中都会用到不可测通路时延故障的识别。本文通过简单的变换将原电路展开，然后对原电路里的伪时序通路(false timing paths)和展开后的电路里的冗余固定型故障建立一种很强的关系。已经证明过通路时延故障测试是时延测试里最精确的形式。
|
| 关 键 词： | 时延测试 故障测试 数字电路 可测试性 序优化 时序分析 变换 冗余 通路 识别 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ |
|
