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ICP—AES多元素同时测定中光谱干扰及基体效应的校正
引用本文:孙大海,张展霞.ICP—AES多元素同时测定中光谱干扰及基体效应的校正[J].计算机与应用化学,1989,6(2):90-94.
作者姓名:孙大海  张展霞
作者单位:中山大学化学系 广州
摘    要:本文将最优化组合设计与数据分析结合起来用于校正 ICP—AES 中的干扰效应。通过对组合设计进行改进,使设计过程及分析测定更加简化。以 APPLEⅡ微机通过 BASIC 程序对测得数据进行脱机处理,能够准确地对 ICP—AES 分析中复杂基体产生的光谱干扰和基体效应进行校正。

关 键 词:ICP-AES  光谱干扰  基体效应
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