| PI薄膜在炭化过程中热解固态产物结构的X射线衍射分析 |
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| 引用本文： | 赵根祥,杨章玄,张清香,陶琨.PI薄膜在炭化过程中热解固态产物结构的X射线衍射分析[J].高分子材料科学与工程,1998(5). |
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| 作者姓名： | 赵根祥 杨章玄 张清香 陶琨 |
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| 作者单位： | 中国科学院山西煤炭化学研究所，清华大学材料科学系 |
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| 基金项目： | 山西省自然科学基金,北京中关村地区分析测试中心资助项目 |
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| 摘 要： | 用Ｘ射线衍射技术测定了ＰＩ（聚酰亚胺）薄膜在炭化过程中热裂解固态产物结构的演变。据衍射峰随热解炭化温度的变化规律，发现该试样的分子链排列由层状的超分子结构转变为杂乱地无序状态。当加热温度达到７００℃时，观察到代表类似碳六方网面的（００２）衍射峰的出现，其衍射强度随热解炭化温度的升高而加强。同时，依据布拉格公式和谢东经验式所获得的微晶尺寸和面间距与热解炭化温度的依赖关系给予了表征。
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| 关 键 词： | 聚酰亚胺薄膜，炭化，热解固态产物，结构，X射线衍射 |
XRD ANALYSIS ON THE STRUCTURE OF THE SOLID PRODUCTS OF PI FILM DURING THE CARBONIZATION |
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| Zhao Genxiang,Yang Zhangxuan,Zhang Qinxiang.XRD ANALYSIS ON THE STRUCTURE OF THE SOLID PRODUCTS OF PI FILM DURING THE CARBONIZATION[J].Polymer Materials Science & Engineering,1998(5). |
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| Authors: | Zhao Genxiang Yang Zhangxuan Zhang Qinxiang |
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| Keywords: | PI thin film carbonization structure of the pyrolytic solid products X ray diffraction |
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