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磁控溅射法制备V掺杂Cu_3N薄膜研究
引用本文:黄赛佳,侯雨轩,侍宇雨,王志姣,杨柳青,杨建波,李兴鳌.磁控溅射法制备V掺杂Cu_3N薄膜研究[J].功能材料,2015(4):4057-4060,4065.
作者姓名:黄赛佳  侯雨轩  侍宇雨  王志姣  杨柳青  杨建波  李兴鳌
作者单位:南京邮电大学 材料科学与工程学院,南京,210046
基金项目:国家自科科学基金资助项目,大学生创新训练计划资助项目
摘    要:利用磁控溅射法成功制备了V掺杂Cu3N薄膜。XRD显示随着V掺入浓度的升高,薄膜的择优生长取向由(111)面向(100)面转变。SEM结果表明向Cu3N薄膜中掺入V,薄膜的晶体颗粒形态发生了变化。从对薄膜样品进行的光反射率、电阻率和显微硬度测试结果可以看出,薄膜中掺入适当浓度V对其光吸收、导电性和力学性能有一定程度的改善。

关 键 词:Cu3N  V掺杂  磁控溅射  反射率  电阻率

Study of V-doped Cu3 N films prepared by reactive magnetron sputtering
HUANG Sai-jia,HOU Yu-xuan,SHI Yu-yu,WANG Zhi-jiao,YANG Liu-qing,YANG Jian-bo,LI Xing-ao.Study of V-doped Cu3 N films prepared by reactive magnetron sputtering[J].Journal of Functional Materials,2015(4):4057-4060,4065.
Authors:HUANG Sai-jia  HOU Yu-xuan  SHI Yu-yu  WANG Zhi-jiao  YANG Liu-qing  YANG Jian-bo  LI Xing-ao
Affiliation:HUANG Sai-jia;HOU Yu-xuan;SHI Yu-yu;WANG Zhi-jiao;YANG Liu-qing;YANG Jian-bo;LI Xing-ao;School of Materials Science and Engineering,Nanjing University of Posts and Telecommunications;
Abstract:
Keywords:copper nitride  V doped  magnetron sputtering  reflectance  resistivity
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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