散斑干涉照像术用于微小位移的测量

本文以Vikram等人提出的方法为基础,提出一种测量小于散斑直径的小位移的新方法,使测量范围由一维扩展至二维。 采用预加位移多次曝光的方法,将对小位移的测量转为对散斑照片傅里叶变换条纹宽度和转角的测量。文中作了理论分析并给出实验结果。