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材料法向光谱发射率测定装置
引用本文:刘宝明,王燕燕,沈志华,殷龙德,曹卫军,王安祥.材料法向光谱发射率测定装置[J].计量学报,1986(3).
作者姓名:刘宝明  王燕燕  沈志华  殷龙德  曹卫军  王安祥
作者单位:上海市计量技术研究所 (刘宝明,王燕燕,沈志华,殷龙德,曹卫军),上海分析仪器厂(王安祥)
摘    要:为了测定陶瓷类、远红外加热涂层等非金属材料及部分金属材料的法向光谱发射率,研制了一套测定装置。其测定的波长范围为(2.5~25)μm,温度范围为(400~1000)℃。本装置由两台等温内凸锥空腔黑体炉、一台带水冷观察窗的旋转样品炉、一台双光束光栅红外分光光度计和一台九点循环控温仪组成。对测量误差源进行了分析,装置总的测量不确定度小于±3%。

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