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| 用高阶矩谱表征粗糙表面的偏斜程度 | |
| 引用本文： | 李成贵.用高阶矩谱表征粗糙表面的偏斜程度[J].计量学报,2003,24(4):279-282,347. |
| 作者姓名： | 李成贵 |
| 作者单位： | 北京航空航天大学自动化学院测控系,北京,100083 |
| 摘 要： | 基于双谱分析理论，结合表面粗糙度偏斜度参数的定义，提出了偏斜度函数的表达方式，以及二维双谱的对角线切片算法，并将它们用于三维粗糙工程表面的偏斜度描述。文中还对具有对称、正偏态和负偏态分布特征的电火花、精密车削和研磨加工试件进行了实验研究，认为双谱和偏斜度函数可以合理有效地描述三维粗糙表面偏离高斯分布的程度。 |
| 关 键 词： | 计量学 表面粗糙度 双谱 参数表征 矩谱 偏斜度 |
| 文章编号： | 1000-1158(2003)04-0279-05 |
Characterization of the Skewness of Rough Surface by High-order Moment Spectrum |
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| Abstract: | |
| Keywords: | Metrology Surface roughness Bispectrum Parameter characterization Moment spectrum Skewness |
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