电子元器件低频电噪声缺陷检测技术研究

针对现有方法忽视了微弱的噪声缺陷信号、降低了低频电噪声缺陷检测准确性的问题，该文提出一种新型电子元器件低频电噪声缺陷检测技术。首先，完成低频电噪声放大和采集工作，其次，提取电子元器件低频电噪声基本参量，将电子元器件的相关参量提取出来，拟合为噪声频谱及时间信号。最后，检测电子元器件内部散粒噪声，分析电子元器件电阻中导电不连续微粒的电流信号，得到晶体管内的热噪声、白噪声特性，使电子元器件的噪声缺陷检测更全面。利用试验证明所提技术的先进性，试验结果表明，所提技术噪声缺陷检测准确性更高，能够应用于实际生活中。