| 粗糙表面的双相干谱分析 |
| |
| 引用本文： | 李成贵.粗糙表面的双相干谱分析[J].测试技术学报,2003,17(3):237-241. |
| |
| 作者姓名： | 李成贵 |
| |
| 作者单位： | 北京航空航天大学,自动化科学与电气工程学院,北京,100083 |
| |
| 摘 要： | 双谱分析是近年发展的一种随机信号的现代分析方法，它保留了信号的相位信息，可以定量描述信号之间的非线性相位耦合；同时具有很强的消噪能力，可以很好地反映信号的非对称特征．正常的加工条件下，表面轮廓符合高斯型分布，因此其双谱为零．但实际加工中，许多表面表现为非高斯型，其双谱不为零，此时可以用双谱分析定量地描述表面轮廓特征的非对称性．然而，用双谱表示灵敏度高、幅值大、不够直观，为了有效地反映表面轮廓的双谱特征，本文采用了双谱的归一化形式——双相干谱分析．最后还通过对几种典型试件的实验，证明了其有效性，并得出了一些有益的结论．
|
| 关 键 词： | 双谱 双相干谱分析 粗糙表面 表面轮廓 非对称性 |
| 文章编号： | 1671-7449(2003)03-0237-05 |
| 修稿时间： | 2003年1月8日 |
Analyzing Rough Surface by Bicoherence Spectrum |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | roughness bispectrum bicoherence spectrum spectrum analysis |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
