| 一种显微图像测量系统的标定方法 |
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| 引用本文： | 王兵振,刘文耀.一种显微图像测量系统的标定方法[J].光电工程,2006,33(2):119-122. |
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| 作者姓名： | 王兵振 刘文耀 |
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| 作者单位： | 天津大学,精密仪器与光电子工程学院教育部光电信息技术科学实验室,天津,300072 |
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| 摘 要： | 提出了一种显微图像测量系统的标定方法。该方法通过同一对平行边缘在垂直和水平方向的两幅图像,计算水平比例因子;利用标定物直线边缘的图像,并运用优化的方法来计算成像系统的畸变系数和主点位置。在上述计算的基础上,利用量块来标定系统的放大倍数。标定过程所需的标定物为量规和带有平行刻线光学器件,如分辨率板等,因此方便实用。试验结果表明,该方法标定精度较高,标定后的实验装置的极限误差3σ为2.26μm。
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| 关 键 词： | 显微测量 相机标定 平行线 图像处理 |
| 文章编号： | 1003-501X(2006)02-0119-04 |
| 收稿时间： | 2005-07-03 |
| 修稿时间： | 2005-11-26 |
Camera calibration method for micro-image measuring system |
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| WANG Bing-zhen,LIU Wen-yao.Camera calibration method for micro-image measuring system[J].Opto-Electronic Engineering,2006,33(2):119-122. |
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| Authors: | WANG Bing-zhen LIU Wen-yao |
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| Affiliation: | Key Laboratory of Optoelectronics Information Technical Science, EMC Collage of Precision Instrument and Opto-Electronics Engineering, Tianjin University, Tianjin 300072, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Microscopical measuring Camera calibration Parallel lines Image processing |
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