| 采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度测量的研究 |
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| 引用本文： | 王庆有,蔡锐,马愈昭,齐龙.采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度测量的研究[J].光电工程,2003,30(6):36-38. |
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| 作者姓名： | 王庆有 蔡锐 马愈昭 齐龙 |
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| 作者单位： | 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072 |
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| 基金项目： | 天津大学精密仪器与光电子工程学院信息技术科学教育部重点实验室资助项目 |
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| 摘 要： | 采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度的拼接非接触测量,克服了单片面阵CCD测量范围小的缺点,解决了用线阵CCD拼接测量时测量带太窄又不能扩展情况下所带来的问题。面阵CCD进行图像拼接的测量方法,适用于测量128-135mm的轴径,其测量精度高达±0.01mm。
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| 关 键 词： | 非接触测量 面阵CCD 图像拼接 |
| 文章编号： | 1003-501X(2003)06-0036-03 |
| 收稿时间： | 2003/3/13 |
| 修稿时间： | 2003年3月13日 |
A study on high-precision measurement of large-size axis diameter with array CCD |
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| WANG Qing-you,CAI Rui,MA Yu-zhao,QI Long.A study on high-precision measurement of large-size axis diameter with array CCD[J].Opto-Electronic Engineering,2003,30(6):36-38. |
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| Authors: | WANG Qing-you CAI Rui MA Yu-zhao QI Long |
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| Abstract: | High-precision noncontact measurement for large-scale axis diameter is carried out through mosaic technology of array CCD images. This method overcomes the shortcomings of small range of single array CCD measurement and solves the problems caused by bandwidth too narrow to be expanded during linear array CCD mosaic measurement . The measuring method for splicing images of array CCDs is suitable for measuring axis diameter 128-135mm, with measuring accuracy as high as /-0.01mm. |
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| Keywords: | Non-contact measurement Array CCD Splicing images |
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