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大口径非球面Ronchi光栅测量方法
引用本文:雷柏平,伍凡,陈强.大口径非球面Ronchi光栅测量方法[J].光电工程,2007,34(4):140-144.
作者姓名:雷柏平  伍凡  陈强
作者单位:1. 中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209;中国科学院研究生院,北京,100039
2. 中国科学院光电技术研究所,四川,成都,610209
摘    要:在对非球面加工过程中常用检测方法的优缺点进行比较的基础上,介绍了Ronchi光栅法的系统组成、工作原理和数据处理方法,并进行了光栅频率和灵敏度分析.通过对Ronchi光栅的频率、灵敏度的分析比较,发现可以通过改变其频率来实现大口径非球面不同加工阶段2~200 μm范围内的误差检测.该方法制作简单,使用方便.它的深入研究,将为大口径非球面精磨和初抛光阶段提供一种有效、可靠的定量检测手段.

关 键 词:郎奇光栅  郎奇条纹  补偿光栅  大口径非球面
文章编号:1003-501X(2007)05-0140-05
收稿时间:2006/9/6
修稿时间:2006-09-06

Measurement of large-aperture aspheric surfaces with Ronchi grating test method
LEI Bai-ping,WU Fan,CHEN Qiang.Measurement of large-aperture aspheric surfaces with Ronchi grating test method[J].Opto-Electronic Engineering,2007,34(4):140-144.
Authors:LEI Bai-ping  WU Fan  CHEN Qiang
Affiliation:1. The Institute of Optics and Electronics, the Chinese Academy of Sciences, Chengdu 610209, China; 2. Graduate School of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039. China
Abstract:
Keywords:Ronchi grating  Ronchi ruling  Null grating  Large-aperture aspheric surface
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