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WN/W难熔栅自对准增强型n沟道HFET
引用本文:刘伟吉,曾庆明,李献杰,敖金平,赵永林,郭建魁,徐晓春.WN/W难熔栅自对准增强型n沟道HFET[J].功能材料与器件学报,2000,6(3):190-192.
作者姓名:刘伟吉  曾庆明  李献杰  敖金平  赵永林  郭建魁  徐晓春
作者单位:信息产业部电子第十三研究所,石家庄050051
基金项目:国防科技预研基金项目资助!(课题号:98J8.4.3)
摘    要:发展了WN/W难熔栅自对准工艺。WN/W栅在850oC下退火,保持了较好的形貌。在此工艺基础上研制出了适用于互补逻辑电路的增强型n沟道异质结场效应晶体管。在1×50μm的HFET中,实现了最大跨导约为56mS/mm,阈值电压为3.5V。与p型HFET的-3V的阈值基本对称。反向击穿电压为4~5V。

关 键 词:WN/W  难熔栅  CHFET  HIGFET  场效应晶体管
修稿时间::

WN/W anisotype- gate self- aligned process for n- channel HFET
LIU Wei-ji,ZENG Qing-ming,LI Xian-jie,AO Jin-ping,ZHAO Yong-lin,GUO Jian-kui,XU Xiao-chun.WN/W anisotype- gate self- aligned process for n- channel HFET[J].Journal of Functional Materials and Devices,2000,6(3):190-192.
Authors:LIU Wei-ji  ZENG Qing-ming  LI Xian-jie  AO Jin-ping  ZHAO Yong-lin  GUO Jian-kui  XU Xiao-chun
Abstract:
Keywords:CHFET  HIGFET
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