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Cr2O3对(Co,Ta)掺杂的SnO2压敏电阻电学特性的影响
引用本文:臧国忠,王矜奉,陈洪存,苏文斌,王文新,亓鹏,王春明.Cr2O3对(Co,Ta)掺杂的SnO2压敏电阻电学特性的影响[J].功能材料与器件学报,2004,10(1):79-82.
作者姓名:臧国忠  王矜奉  陈洪存  苏文斌  王文新  亓鹏  王春明
作者单位:山东大学物理与微电子学院,济南,250100;山东大学物理与微电子学院,济南,250100;山东大学物理与微电子学院,济南,250100;山东大学物理与微电子学院,济南,250100;山东大学物理与微电子学院,济南,250100;山东大学物理与微电子学院,济南,250100;山东大学物理与微电子学院,济南,250100
基金项目:国家自然科学基金资助项目(50072013)
摘    要:研究了Cr对(Co,Ta)掺杂的SnO2压敏材料电学性质的影响.当Cr2O3的含量从0增加到0.15mol%时,(Co,Ta)掺杂SnO2压敏电阻的击穿电压从206V/mm增加到493V/mm;1kHz时的相对介电常数从1968猛降至498;晶界势垒高度分析表明,SnO2晶粒尺寸的迅速减小是样品击穿电压增高、相对介电常数急剧降低和电阻率迅速增大的主要原因.对Cr含量增加引起SnO2晶粒减小的原因进行了解释.掺杂0.15mol% Cr2O3的SnO2压敏电阻非线性系数为24,击穿电压达498V/mm,在高压保护领域有很好的应用前景.

关 键 词:压敏电阻  二氧化锡  势垒高度  非线性系数
文章编号:1007-4252(2004)01-0079-04
修稿时间:2003年5月8日

Effect of Cr2O3 on the electrical properties of (Co,Ta)-doped SnO2 varistors
ZANG Guo -zhong,WANG Jin -feng,CHEN Hong -cun,SU Wen -bin,WANG Wen -xin,QI Peng,WANG Chun -min.Effect of Cr2O3 on the electrical properties of (Co,Ta)-doped SnO2 varistors[J].Journal of Functional Materials and Devices,2004,10(1):79-82.
Authors:ZANG Guo -zhong  WANG Jin -feng  CHEN Hong -cun  SU Wen -bin  WANG Wen -xin  QI Peng  WANG Chun -min
Abstract:
Keywords:varistor  tin oxide  barrier height  nonlinear coefficient
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