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| 直流局部放电测试技术在电容器老化判断中的应用 | |
| 引用本文： | 陈勇,于成龙,何承基.直流局部放电测试技术在电容器老化判断中的应用[J].中国测试技术,2003,29(5):20-21. |
| 作者姓名： | 陈勇 于成龙 何承基 |
| 作者单位： | 中国工程物理研究院电子工程研究所,绵阳,621900 |
| 基金项目： | 电子工程研究所创新基金(S20030402)资助 |
| 摘 要： | 本文在有较强环境干扰情况下通过对电容器进行一系列直流局部放电试验,比较不同工作寿命的同批电容器的局部放电信号的典型差异,初步得出不同工作寿命的电容器的直流局部放电最大放电量和放电次数有较明显的差异。 |
| 关 键 词： | 局部放电 电容器 无损检测 绝缘 |
Application of dc pd technique in judgement of capacitor aging |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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