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| 光纤用四氯化硅中金属杂质的检测方法 | |
| 引用本文： | 李春华,陈黎明.光纤用四氯化硅中金属杂质的检测方法[J].上海计量测试,2013(2):32-34. |
| 作者姓名： | 李春华 陈黎明 |
| 作者单位： | 上海市计量测试技术研究院 |
| 摘 要： | 在洁净室里采用加热挥发的前处理方法制备光纤用四氯化硅样品,用高分辨电感耦合等离子体质谱仪(HR-ICP-MS)测试金属杂质含量,可以有效地提高各元素的分辨率,降低检出限,用加标回收的方式计算回收率在85.1-115.4之间。 |
| 关 键 词： | 四氯化硅 金属杂质 检测 |
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