首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
扫描电子显微镜在光伏原辅材料检验中的应用
引用本文:
黄艳萍,刘毅,朱晓岗,孟庆法,单演炎,卢佳妍.扫描电子显微镜在光伏原辅材料检验中的应用[J].理化检验(物理分册),2018(1):32-35,42.
作者姓名:
黄艳萍
刘毅
朱晓岗
孟庆法
单演炎
卢佳妍
作者单位:
无锡市产品质量监督检验院国家太阳能光伏产品质量监督检验中心;
基金项目:
江苏省质量技术监督局科技资助项目(KJ155434)
摘 要:
采用扫描电子显微镜对镀膜玻璃、硅片、焊带、背板等光伏原辅材料进行测试及分析,分别介绍了扫描电子显微镜在镀膜玻璃膜层结构观察、膜厚测量、硅片表面形貌及间距分析、焊带表面微观分析、背板类型分辨、各层厚度测量等方面的应用,其结果可为镀膜玻璃的性能研究、电池片工艺优化分析、焊带性能评估、背板验货及鉴定等光伏原辅材料的研究及测试提供依据。
关 键 词:
扫描电子显微镜
光伏原辅材料
镀膜玻璃
硅片
焊带
背板
Application of Scanning Electron Microscope in Inspection of Photovoltaic Raw and Auxiliary Materials
Abstract:
Keywords:
scanning electron microscope
photovoltaic raw and auxiliary material
coating glass
silicon wafer
welding strip
back sheet
本文献已被
CNKI
维普
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号